Резание металлов: Учебник для машиностр. и приборостр. спец. вузов
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо
Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .
Страницы: 1 2 3... 132 133 134 135 136 137 138... 302 303 304
|
|
|
|
ляет обнаружить и оценить форму и размеры отдельно взятой частицы продуктов износа и может быть использован только для ориентировочного определения изношенной массы и зависимости ее от режимных параметров и геометрии режущей части инструмента. МЕТОД МИКРОРЕНТГЕНОСПЕКТ Рис. 9.17. Продукты износа лезвий резцо обработке конструкционных ста; Прибор дает изображение обследуемой площади образца размером от 165 до 330 мкм2. Глубина проникновения потока электронов в обследуемый поверхностный слой достигает 1 мкм. Под действием первичных ионов с поверхности образца вылетают частицы, некоторые из которых являются ионизировании Кг *• *. "/1" v: 1 из быстрорежущей стали Р18МЗК25 при РАЛЬНОГО АНАЛИЗА. Этот метод основан на использовании пучка быстрых электронов, с помощью которого можно обнаружить и обследовать продукты износа инструментального материала лезвий на прирезцовой стороне стружки, а также на поверхности резания и обработанной поверхности. Анализ ведется на предназначенных для этого электронно-оптических приборах — микрозондах, разрешающая способность которых составляет около 1 мкм. Ниже приведены результаты качественного и количественного анализа стружки, поверхности резания и обработанной поверхности, полученные на микрозонде "М5-46-Сагпеса". Микрозонд этого типа представляет систему, совмещающую масс-спектрометр и электронный микроскоп. Принцип его работы основан на бомбардировке поверхности образца пучком электронов, а также ионов различных элементов с энергией 10 кэВ. ми атомами или группами атомов элементов, содержащихся в поверхностном слое образца. Эти вторичные ионы проходят через электростатические линзы, ускоряются и фокусируются в пучок. Пучок вторичных ионов несет реальное изображение, образованное всеми типами ионов, вылетающих с бомбардируемой поверхности образца. Сфокусированный пучок разделяется в масс-спектрометре на отдельные элементарные изображения, каждое из которых соответствует ионам отдельных элементов. Отдельное ионное изображение подается на катод преобразователя, где преобразуется в электронное изображение, проецируемое на экран и на регистрирующую фотопленку. Регулируя настройку масс-спектрометра, можно последовательно наблюдать и фиксировать на пленку картину распределения искомого химического элемента на сканированной поверхности образца.
Карта
|
|
|
|
|
|
|
|
Страницы: 1 2 3... 132 133 134 135 136 137 138... 302 303 304
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу |
