Неразрушающий контроль. В 5 кн. Кн. 2. Акустические методы контроля: Практ. пособие
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо
Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .
Страницы: 1 2 3... 119 120 121 122 123 124 125... 281 282 283
|
|
|
|
где р — расстояние между осями преобразователя и отражателя. При увеличении размеров отражателя сужение диаграммы направленности диска как вторичного излучателя оказывает существенное влияние и приводит к сужению общей диаграммы направленности преобразователь — отражатель (кривые 3, 4). Это хорошо заметно, если измерить ширину кривых на одинаковом уровне (например, 6 дБ) от максимума. Наибольшее сужение наблюдается, когда диаметры преобразователя и отражателя равны (кривая 5). Кривая 6 соответствует случаю, когда амплитуда сигнала от дефекта, расположенного в дальней зоне преобразователя, больше донного сигнала (см. кривую 2 на рис. 2.11). Если размер отражателя больше ширины пучка ультразвуковых лучей на глубине расположения дефекта, на кривой изменения амплитуды сигнала появится плато (кривая 7), а при положении преобразователя вблизи края плоскодонного отверстия на кривой имеется интерференционный максимум, подобный показанному на рис. 2.14, кривая г/гб=3. Анализ отражения от наклонного плоского дефекта с помощью дифракционных теорий [10] представляет поле отражения как сумму геометрически отраженной волны и двух дифракционных волн рт краев дефекта, ближнего и дальнего к преобразователю. Поведение каждой из них подчиняется закономерностям, рассмотренным в п. 1.4.1. Наличие двух источников дифракционных волн вызывает их интерференцию, под влиянием которой амплитуда эхо-сигнала осциллирует с изменением частоты, размера дефекта и угла падения на него. Возникновение осцилляции следует также из формул (2.25) с учетом (2.26) поскольку Ф' — осциллирующая функция с аргументом bk sin б. Имеется существенное различие в результатах расчетов методом Кирхгофа и по дифракционной теории [7]. Согласно первому амплитуда максимумов осцилляции уменьшается с увеличением аргумента, а согласно второму— остается постоянной. Последний результат подтверждается экспериментом. 2.2.7. Особенности отражения от реальных дефектов Реальные дефекты отличаются от рассмотренных выше моделей неправильностью формы, шероховатостью поверхности, они могут быть заполнены окислами и другими веществами, в результате чего отражение будет неполным. Дефекты разделяют на объемные и плоскостные. Объемные (поры, шлаки, см. кн. 1) дают равновероятное рассеяние падающей волны по всем направлениям. Плоскостные (трещины, расслоения, непровары) дают рассеяние определенной направленности. Ориентация плоскости этих дефектов определяется технологическим процессом. Существуют промежуточные типы дефектов, например паукообразные трещины, некоторые непровары.
Карта
|
|
|
|
|
|
|
|
Страницы: 1 2 3... 119 120 121 122 123 124 125... 281 282 283
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу |
