Неразрушающий контроль. В 5 кн. Кн. 2. Акустические методы контроля: Практ. пособие
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо
Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .
Страницы: 1 2 3... 131 132 133 134 135 136 137... 281 282 283
|
|
|
|
формулам (2.37) и (2.38). В п. 1.5.1 указаны коэффициенты преобразования электрического сигнала в акустический и обратно для амплитуд сигналов, которые пригодны также для вычисления электрического эквивалента структурных помех. Однако при контактном способе контроля необходимо учитывать особенности прохож дения импульсов структурных помех через тонкий слой. В § 1.3 показано, что прохождение через тонкий слой очень сильно зависит от соотношения толщины слоя hc и длины волны в слое. В результате интерференции волн в слое коэффициент прозрачности изменяется в десятки раз. Однако этот вывод был сделан для непрерывного излучения и отмечено, что импульсный характер излучения сглаживает осцилляции зависимости D от /icAc. Для структурных помех коэффициент прозрачности не зависит от толщины слоя. Это явление связано с тем, что в этом случае уровень структурных помех определяет не амплитуда, а интенсивность, пропорциональная энергии прошедшего импульса, которая равна произведению квадрата амплитуды на длительность импульса, а она остается практически постоянной при изменении условий интерференции в тонком слое. Если, например, коэффициент прозрачности уменьшается, то соответственно упадет амплитуда, но возрастет длительность импульса, таким образом, что энергия прошедшего через слой импульса остается постоянной. В результате электрический уровень структурных помех на экране ЭЛТ не зависит от толщины слоя контактной жидкости при контроле контактным методом. Структурные помехи — основной постоянно действующий фактор, ограничивающий чувствительность контроля Способы борьбы с ними рассмотрены в п. 2.4.Г. Задачи 2.3.1. Определить условие отсутствия влияния боковой поверхности изделия из стали при контроле прямым ПЭП диаметром 12 мм на частоте 2 МГц. Толщина /=100 и 1000 мм. Решение. Определим т из формул (2.28) и (2.29) для /=100 мм; X" " 3 мм: /72!= 0,22/Х/а =0,22-100-3/6= 11 мм; т2 = 1,4 У ТГ = 1,4/3-100 = 24 мм. Если m больше 11 мм, то нарушится первое условие и интерференция не произойдет. Производя аналогичные вычисления для /=1000 мм, найдем, что mi= = 110 мм, а т2=77 мм. Возникновению интерференции при расстоянии т^77 мм будет препятствовать второе условие. Найденные соотношения характерны: условие (2.28) препятствует возникновению интерференции при малой толщине изделий, а (2.29) —при большой. 2.3.2. Рассчитать уровень тепловых шумов входных цепей дефектоскопа при комнатной температуре, если ширина полосы пропускания Д/=2 МГц, входное сопротивление 50 Ом. Оценить значение минимального регистрируемого сигнала. Решение. Подставляя значения в формулу (2.27), получим V U2 =V 4-50-1,38-10-23(273 +20)-2-106 = 1,3-10-6 В. Umla 10-5 В. § 2.4. ХАРАКТЕРИСТИКИ ЭХОМ Т ДА, ИХ ОПТИМИЗАЦИЯ И ПРОВЕРКА Основные характеристики эхометода контроля определяют область его применения, способность обнаруживать и оценивать дефекты изделий Для достижения наилучших эксплуатаци
Карта
|
|
|
|
|
|
|
|
Страницы: 1 2 3... 131 132 133 134 135 136 137... 281 282 283
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу |
