Неразрушающий контроль. В 5 кн. Кн. 2. Акустические методы контроля: Практ. пособие
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо
Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .
Страницы: 1 2 3... 192 193 194 195 196 197 198... 281 282 283
|
|
|
|
ловную протяженность либо по уровню 6 дБ, либо по уровню фиксации в зависимости от того, какой уровень ниже. Таким образом будет замерена протяженность больших полупрозрачных дефектов. Оценка размеров дефектов при этом будет завышена. На рис. 3.3 показано измерение условной высоты. Если выяв ляется дефект с большим параметром Рэлея (см. п. 2.2.7), т. е. с небольшим углом наклона б и значительной шероховатостью поверхности (рис. 3.3, а), то признаком его развития по высоте служит перемещение эхосигнала по экрану ЭЛТ большее, чем для компактного округлого дефекта (рис. 3.3, б). Для округлого дефекта это перемещение связано с изменением расстояния до дефекта, находящегося в пределах диаграммы направленности преобразователя Следует обратить внимание, что измерению подлежат именно перемещение импульса по линии развертки, а не перемещение преобразователя по поверхности изделия. Для неразвитого по высоте дефекта, показанного на рис. 3.3, а пунктиром, перемещение преобразователя будет таким же, как для варианта а, а перемещение импульса по линии развертки не больше чем для варианта б. По этому признаку отличают развитые по высоте дефекты от неразвитых, подобно тому как различали протяженные и точечные дефекты. На рис. 3.3, в показан случай, характерный для дефекта с малым параметром Рэлея. Этот вариант особенно часто встречается при контроле наклонным преобразователем. Интенсивные эхосигналы связаны с дифракцией волн на краях дефекта, а от шероховатости наблюдают лишь слабые отражения. Таким образом, сиг I А А_К К А А NN Рис. 3.4. Дифракционно-временной способ измерения размеров дефектов налы от краевых точек в данном случае нельзя сравнивать с сигналами от средней части дефекта, как во втором способе. Измерение выполняют, определяя координаты точки, дающей максимум эхосигнала, т. е. третьим способом. Условная высота компактного дефекта (рис. 3.3, г) при контроле наклонным преобразователем больше, чем прямым. Неравномерное распределение дифракционной волны по разным направлениям, которое отмечалось в п 1.4.1, и при рассмотрении рис. 3.1 может вызвать существенное отклонение направления на максимум эхосигнала от акустической оси преобразователя. Это вызовет погрешности в определении координат краевых точек дефекта третьим способом. Примером подобной погрешности
Карта
|
|
|
|
|
|
|
|
Страницы: 1 2 3... 192 193 194 195 196 197 198... 281 282 283
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу |
