Неразрушающий контроль. В 5 кн. Кн. 2. Акустические методы контроля: Практ. пособие
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо
Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .
Страницы: 1 2 3... 263 264 265 266 267 268 269... 281 282 283
|
|
|
|
ных точек изучают возможность контроля литого ядра по отражению от него высокочастотных колебаний. Выдвинута идея контроля процесса контактной сварки по прохождению упругих волн в процессе сварки, подобно сварным точкам. Здесь целесообразно следить одновременно за прохождением через свариваемый шов продольной и поперечной волн: первая будет проходить все время с момента соприкосновения свариваемых поверхностей, а прохождение второй будет прерываться на время существования расплавленного металла между поверхностями. Очень актуален вопрос измерения внутренних напряжений. Акустическая тензометрия, основанная на точном измерении скорости ультразвука, пока находит ограниченное применение, изложенное в п. 3.4.2. Это связано с трудностью измерения малых изменений скорости. Имеются сведения [13] о значительном изменении затухания под действием напряжений, которое пока не используют для целей контроля. Новые перспективы открывает расширение освоенного диапазона частот в высокочастотную область. Это позволит обнаружить более мелкие дефекты, повысить разрешающую способность, улучшить направленность излучения-приема. Повышению частот пре пятствуют увеличение затухания ультразвука в ОК и трудности возбуждения и приема высокочастотных колебаний (см. п. 3.5.2). В настоящее время можно считать достаточно освоенным диапазон частот до 10... 15 МГц. Здесь не потребовалось применять существенно новых технических решений. В то же время на этих частотах возможен контроль тонких изделий, например, сварных соединений толщиной 2... 3 мм. Методика контроля остается такой же, как при контроле толщин 10...30 мм на частотах 2...5 МГц. Высокая разрешающая способность позволила разделить сигналы от возможных дефектов и неровностей поверхностей сварного соединения при малых расстояниях между ними. Дальнейшее повышение частоты до 50... 100 МГц и даже единиц гигагерц позволяет решать такие задачи, как выявление очень мелких дефектов (50... 100 мкм), в том числе микропористости в металлах и керамике, исследование тонкой кристаллической структуры металлов, обнаружение неоднородностей в оптическом стекле с неотшлифованными (непрозрачными) поверхностями, контроль размеров и качества соединения элементов композиционных материалов, тонких многослойных конструкций, поиск дефектов в полупроводниковых элементах, исследование поведения дислокаций в кристаллах. Контролируемые материалы должны обладать малым затуханием ультразвука на соответствующей частоте или приходится контролировать только поверхностные слои объектов (1 ...2 мм).
Карта
|
|
|
|
|
|
|
|
Страницы: 1 2 3... 263 264 265 266 267 268 269... 281 282 283
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу |
