Контактная сварка
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо
Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .
Страницы: 1 2 3... 8 9 10 11 12 13 14... 238 239 240
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Таблица 1.!. Свойства оксидного слоя на
железе |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Температура
возникновения, PC |
Приблизительная
толщина слоя А-10', см |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
| |
|
|
|
|
|
толщина оксида не превышает
3-10"8 м. Можно заметить отсюда, что даже самое мелкое зерно,
какое может быть в полированном слое (0,2 мкм), в семь раз превышает
толщину оптически прозрачного оксидного слоя 0,03 мкм. Разумеется,
нагрев металла при его механической обработке может заметно увеличить
толщину оксидного слоя. Известно, в частности, что с повышением
температур поверхности на железе появляются цвета побежалости (табл.
1.1).
Электрическая структура оксидов
многих металлов чисто полупроводниковая. Наслоения оксида на
металлической поверхности имеют более сложную переходную структуру от
металлического проводника к полупроводнику. Поверхностный слой
разориенти-рованных кристаллов по своей электрической структуре иногда
ближе подходит к полупроводникам, чем к металлу.
Рассмотрим геометрические
характеристики механически обработанной металлической поверхности.
Геометрию металлической поверхности исследуют и изучают в различных
масштабах. Если масштаб макроскопический, то поверхность характеризуется
степенью ее волнистости. В пределах каждой волны поверхность в зависимости
от способа обработки обладает той или иной шероховатостью (рис. 1.2).
Шероховатость в технологии машиностроения моделируют в виде различных
геометрических фигур. В этой книге шероховатость принято моделировать
пирамидами с квадратным основанием (рис. 1.3). Волнистость измеряется
обычными инструментами (линейками, штангенциркулями), шероховатость
очерчивают особые приборы — профилографы. Одна из типовых профилограмм
показана на рис. 1.4. Каждая пирамида построена из множества разрушенных
кристаллитов (рис. 1.5) и оказывается насыщенной огромным числом дефектов
решетки. В сумме все разрушенные кристаллические организации и являются
теми концентраторами избыточной энергии, за счет которой весьма активно
оксидируется металлическая поверхность. Структура Двойных электрических
слоев повторяется и на поверхности оксидных пленок (рис. 1.6).
Воздушная среда цеха обеспечивает адгезионные наслоения на оксид водяных,
масляных и пылевых частиц, каждая из которых всегда электрически
полярна. |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Карта
|
|
|
|
|
|
|
|
Страницы: 1 2 3... 8 9 10 11 12 13 14... 238 239 240
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу |
