Ультразвуковая дефектоскопия: Справ. пособие
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо
Если Вы являетесь автором данной книги и её распространение ущемляет Ваши авторские права или если Вы хотите внести изменения в данный документ или опубликовать новую книгу свяжитесь с нами по по .
Страницы: 1 2 3... 227 228 229 230 231 232 233... 275 276 277
|
|
|
|
наблюдение за стналами на экране дисплея и записы-|^ать информацию на магнитной ленте. Информация в цифровом виде содержит размер дефекта, его координаты относительно оси шва и точки начала контроля, глубину залегания дефекта, амплитуду э.хо-сигнала от дефекта и параметры контролируемой трубы. Сигналы, полученные при прозвучивании сварного шва с разных сторон, на дисплее имеют различные оттенки (светлые или темные), что позволяет определить характер дефекта. 9.7. Применение микропроцессоров Микропроцессор — это устройство для обработки данных и управления системой (процессором). В ультразвуковой дефектоскопии микропроцессоры используются для создания автоматизированных переносных дефектоскопов, а также автоматических систем контроля стационарного типа. Применение микропроцессоров и микроЭВМ позволяет решить следующие задачи. 1. Расширить функциональные возможности дефектоскопов. Это достигается перестройкой режимов работы приборов по командам контроллера при изменении условий контроля и параметров объекта контроля. 2. Сократить время на настройку и калибровку дефектоскопа. Настройка и калибровка выполняются автоматически по командам контроллера перед началом работы. Возможны автоматическая реализация режима "самообучения" п1)ибора по серии образцов объекта контроля и выбор оптимального алгоритма и режима работы. 3. Повысить достоверность контроля благодаря самодиагностике и исключению ошибок оператора в настройке дефектоскопа. Самодиагностика выполняется по командам контроллера путем воздействия на дефектоскоп специальных тестов. 4. Увеличить точность измерения параметров объекта контроля сложных методик (алгоритмов) обработки информации. 230
Карта
|
|
|
|
|
|
|
|
Страницы: 1 2 3... 227 228 229 230 231 232 233... 275 276 277
Внимание! эта страница распознана автоматически, поэтому мы не гарантируем, что она не содержит ошибок. Для того, чтобы увидеть оригинал, Вам необходимо скачать книгу |
|
|
|
